科學家們近日宣布了一項突破性的顯微技術，這項技術能夠以 1 奈米的空間解析度觀察光與物質的相互作用，這一成就被稱為「超低振幅震盪 s-SNOM」。這項新技術由德國馬克斯·普朗克學會的研究團隊及其國際合作夥伴共同開發。

這項技術的核心在於將散射型掃描近場光學顯微鏡（s-SNOM）與非接觸式原子力顯微鏡（nc-AFM）相結合，並利用在可見光激發下的銀尖端形成的等離子體腔，將光限制在極小的體積內，進而實現前所未有的原子級光學成像。

傳統的s-SNOM方法通常只能達到約10奈米的解析度，無法滿足原子級成像的需求。而這項新技術的出現，將解析度提升至1奈米，讓科學家能夠觀察到原子缺陷、分子及奈米結構等微小特徵，這對於材料科學、電子學及醫療設備的設計具有重要意義。

這項技術的發展不僅突破了以往超高解析顯微鏡的限制，還為未來的研究和技術發展開啟新的可能性。科學家們相信，這種精確的成像能力將對材料的行為和性能產生深遠影響，並推動新材料的設計與應用。該研究成果已於6月11日發表在《科學進展》（Science Advances）期刊上。

• Atomic Vision Achieved: New Microscope Sees Light at 1-Nanometer Precision
• New microscopy technique achieves 1-nanometer resolution for atomic-scale imaging

（首圖來源：Fritz-Haber Institute of the Max-Planck Society）

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(责任编辑：汉中市)